Warning: Creating default object from empty value in /home/chiporta/public_html/plugins/system/advancedmodules/modulehelper.php on line 320

עשרות הרצאות מקצועיות נבחרו לכנס ChipEx2015 ע"י הועדה המקצועית שכללה חמישה פרופסורים וחמשיה אנשי תעשיה בכירים

גרסת הדפסה

chipex2015


לאחר בחינה מדוקדקת ע"י ועדת ה TPC של כנס ChipEx2015 נבחרו כ-30 הרצאות אשר יוצגו בכנס המקצועי. ראש הועדה, פרופ' רן גינוסר ציין כי: "חברי הועדה הופתעו השנה לטובה מכמות ואיכות הבקשות שהוגשו לוועדה וסיפקו אתגר לבחירת המרצים והנושאים שיוצגו ב- ChipEx2015".

הנושא שיעמוד השנה במרכז הכנס הוא פיתוחים וחידושים במגזר ה-IOT והשפעתן על תעשיית המיקרואלקטרוניקה. הרצאות שהוגשו בתחום זה זכו להעדפה על פני נושאים אחרים כפי שכבר דיווחנו אתמול , אחד ממושבי הכנס יוקדש לנושא האינטנרט של הדברים בו יעסקו המרצים מהיבטים שונים.

כמו כן יתקיימו שבעה מושבים נוספים שיעסקו בנושאים הבאים:
Logic and front-end design
Intellectual Property for SoC & Cores
Analog Design and Applications
Power Optimization and Ultra low power design
Physical Design Automation
Verification, Simulation, and Testing
Manufacturing & Post Silicon processes

חברי ועדת ה-TPC אשר בחרו את ההרצאות שיוצגו בכנס המקצועי כוללים  אנשי אקדמיה בכירים בינהם פרופסור רן גינוסר, מהטכניון, פרופ' סימון ליצין, מאוניברסיטת ת"א, פרופ' שלמי דולב, מאוניברסיטת בן גוריון, פרופ' אלכס פיש מאוניברסיטת בר אילן וכן פרופ'  ערן סוחר מאוניברסיטת ת"א. כמו כן כללה הוועדה נציגי תעשיה בכירים ביניהם ד"ר ראובן דובקין, מנכ"ל חברת Vsync , דרור אבני, מנהל ותיק ומומחה בתעשיית המיקרואלקטרוניקה, ד"ר רקפת קול, מנהלת פיתוח בכירה בחברת אינטל, נאביל סקרן, מנהל מרכז הפיתוח של אפל חיפה וארקדי מורגנשטיין מחברת יבמ.

לצפיה בתוכנית הכנס המקצועי של  ChipEx2015 לחצו כאן

עוד בתחום שבבים

Warning: Creating default object from empty value in /home/chiporta/public_html/modules/mod_filterednews/helper.php on line 247

Warning: Creating default object from empty value in /home/chiporta/public_html/modules/mod_filterednews/helper.php on line 247

כתבות נוספות בתחום

שבבים
כתבה ריקה 1
כותרת ביניים * כותרת ביניים
קרא עוד
שבבים
כתבה ריקה 2
כותרת ביניים * כותרת ביניים
קרא עוד