Warning: Creating default object from empty value in /home/chiporta/public_html/plugins/system/advancedmodules/modulehelper.php on line 320
|
|
|
מאת אבי בליזובסקי
חמישי, 07 יולי 2016 00:49
|
 |
 |
| איתן אופנהיים, נשיא ומנכ"ל נובה |
נובה מכשירי מדידה הודיעה היום כי ריוורה, חברה בבעלות נובה וספקית מובילה של פתרונות מדידה להרכב חומרים ועובי שכבות דקות בשלבי ייצור מתקדמים בתעשיית המוליכים למחצה, קיבלה הזמנה חוזרת מיצרן זיכרונות מוביל עבור מכונת VeraFlex III מתקדמת בטכנולוגית X-Ray Photoelectron Spectroscopy ((XPS.
ההזמנה הנוכחית מרחיבה את בסיס ההתקנות של מכונות VeraFlex III בקוי הייצור והפיתוח המתקדמים ביותר של לקוח מוביל זה, ומספקת לו יכולות מדידה לעובי שכבות דקות והרכב חומרים בייצור שבבי זכרון מסוג Flash Nand.
פלטפורמת VeraFlex III הינה הדור השלישי בסדרת מכונות ה- VeraFlex המותקנות באתרי ייצור השבבים המתקדמים ביותר ברחבי העולם. הדור החדש של המכונות משלב יכולות XPS עם אפשרות להוספת ערוץ XRF (X-ray fluorescence) במטרה לענות על האתגרים הנובעים ממדידת שבבים מורכבים בטכנולוגיות המתקדמות ביותר.
גלן דיוויס, סמנכ"ל בכיר ונשיא ריוורה: "אנו מברכים על הזמנה זו והבעת האמון של לקוח זה בפתרון ה- X-Ray המתקדם שלנו, המחזק את חדירתנו לתהליכי הייצור המתקדמים ביותר. הזמנה חוזרת זו מחזקת את מעמדנו בפלח שוק הזיכרונות, במיוחד בקוי ייצור שבבי ה- Flash המתקדמים, ומאפשרת לנובה להאיץ את צמיחתה יחד עם תוכניות הפיתוח השאפתנית של לקוחותיה המובילים".
|
עוד בתחום שבבים |
Warning: Creating default object from empty value in /home/chiporta/public_html/modules/mod_filterednews/helper.php on line 247
Warning: Creating default object from empty value in /home/chiporta/public_html/modules/mod_filterednews/helper.php on line 247
כתבות נוספות בתחום
|
|
