Warning: Creating default object from empty value in /home/chiporta/public_html/plugins/system/advancedmodules/modulehelper.php on line 320

הופעת בכורה לבדיקות רכיבי USB 2.0 עבור אוסצילוסקופ ספסל

מאת אבי בליזובסקי שישי, 01 ינואר 2010 21:35
גרסת הדפסה


tektronix_usb_measures
מסך מערכת בדיקות USB של טקטרוניקס

חברת טקטרוניקס הכריזה על רכיב DPO4USB להפעלה וניתוח של התקני USB, הראשון המיועד לאוסצילוסקופי ספסל – כלומר כאלו הנמכרים תמורת פחות מ-10,500 דולרים. הרכיב מתוכנן לענות על האתגר העומד בפני מתכנני מערכות משולבות שבהם נעשה שימוש ב-USB, הן כקשר בין מערכת למערכת וכן לתקשורת בין שבב לשבב. מערכות אלה כולות משחקים, ציוד רפואי, מערכות תעשיתיות, מצלמות דגיטליות והתקני הקלטת וידאו.

כדי להאיץ את הוצאתם של מוצרים חדשים לשוק, הרכיב מאפשר אוטומציה של מדידות ומשימות ניתוח להתקני USB בעלי אפיקים במהירות נמוכה, במהירות רגילה ובמהירות גבוהה, ולאפשר למהנדסים לבצע במהירות בדיקת תקלות ותיקון באגים בתכנון שלהם. המערכת מאפשרת הדמית העברת מנות תוכן עבור התקני USB 2.0 והצגת התוצאות במגוון צורות.


לכל היישומים הדורשים העברת נתונים במהירות גבוהה בתקן USB 2.0 המערכת מאפשרת לאוסצילוסקופ לפתוח באופן אוטומטי את זרמי המנות, מציג מידע קריטי כגון SYNC, מנות 'לחיצת ידיים', מנות של token, מנות נתונים ועוד. תוך שימוש בכלי ניתוח הגלים הסטנדרטיים של האוסצילוסקופ, יכולים המתכננים לחפש אחר תכנים ברמת המנה ולסמן נקודות מעניינות, ולאחר מכן לנווט ביניהם באמצעות כפתורי "הבא" ו"הקודם" וכן באמצעות בקרי הזום.

לאתר מוצרי בדיקת USB של טקטרוניקס

עוד בתחום צב"ד

Warning: Creating default object from empty value in /home/chiporta/public_html/modules/mod_filterednews/helper.php on line 247

Warning: Creating default object from empty value in /home/chiporta/public_html/modules/mod_filterednews/helper.php on line 247

כתבות נוספות בתחום

‫צב"ד‬
קיידנס משיקה את Celsius, פתרון לשוק התכנון וניתוח מערכות
בעידן שבו שואפת תעשיית האלקטרוניקה למוצרים קטנים יותר, מהירים יותר, חכמים ומורכבים יותר, עם צפיפות הספק גבוהה יותר, מתעורר צורך בשימוש...
קרא עוד
‫צב"ד‬
אדוונטסט מציגה פתרונות בדיקה חדשים עבור 5G, רכב וזיכרון
ההכרזה התקיימה במהלך כנס סמיקון טאיוואן המתקיים השבוע
קרא עוד