יצרן שבבי זיכרון גלובלי נוסף בחר בפתרונות מדידת החומרים של נובה
מאת אבי בליזובסקי חמישי, 04 אפריל 2019 00:18

פתרון המדידה של נובה שנבחר על ידי לקוח מוביל זה הינו VeraFlex III+ XF, הדור המתקדם ביותר של טכנולוגיתXPS (x-ray photoelectron spectroscopy), המשלב בנוסף יכולות XRF (x-ray florescence). הפלטפורמה המתקדמת כוללת תכנון חומרה חדשני המאפשר ללקוחות גמישות מקסימלית במטרה לשפר את הרגישות, הדיוק והיעילות של המערכת, במגוון רחב של יישומים בטכנולוגיות המתקדמות ביותר של יצור שבבי זיכרון.

אדריאן וילסון, מנהל החטיבה למדידות חומרים של נובה הגיב על הזכייה: "אנו מחויבים לספק ליצרני השבבים הגדולים בעולם כלים המאפשרים ביצועים ייחודים ברמה הגבוהה ביותר. אנו גאים בכך שפלטפורמת ה XPS המשולבת בקווי הייצור הפכה כעת לכלי נבחר בקרב כל הלקוחות המובילים שלנו בתחום שבבי הזיכרון. הפתרון שלנו מאפשר ללקוחות החברה לפתור את האתגרים הגדלים בתהליכי הייצור הנובעים מכניסת טכניקות חדשות של הנדסת חומרים. היכולות המתקדמות של נובה בתחום ה-X-Ray למדידת הרכב חומרים ועובי שכבות, משתלבות עם ההשקעות הגדלות של לקוחותינו בשילוב חומרים פורצי דרך על מנת לשפר את ביצועי השבבים, מעבר לשינויים המסורתיים של מבנה וגודל".

עוד בתחום שבבים Warning: Creating default object from empty value in /home/chiporta/public_html/modules/mod_filterednews/helper.php on line 247 Warning: Creating default object from empty value in /home/chiporta/public_html/modules/mod_filterednews/helper.php on line 247 כתבות נוספות בתחום שבבים כתבה ריקה 1 כותרת ביניים * כותרת ביניים קרא עוד שבבים כתבה ריקה 2 כותרת ביניים * כותרת ביניים קרא עוד

תגובות (0)

הצג או הסתר תגובות

כתוב תגובה

מייל שם אתר		כותרת תגובה יותר קטן | יותר גדול
		קבלת עדכונים בדואר אלקטרוני - למשתמשים רשומים בלבד קראתי והנני מסכים ל תנאי השימוש באתר העתק תווים מוצגים הוסף תגובה