נובה משיקה מערכת מטרולוגיה בעלת יכולות ייחודיות למדידת שבבים באינטגרציה תלת מימדית

פורטל תעשיית השבבים בישראל מבית מגזין

דף בית

בישראל

צב"ד‬

מאמרים פופולריים

Warning: Creating default object from empty value in /home/chiporta/public_html/modules/mod_mostread/helper.php on line 79

Warning: Creating default object from empty value in /home/chiporta/public_html/modules/mod_mostread/helper.php on line 79

Warning: Creating default object from empty value in /home/chiporta/public_html/modules/mod_mostread/helper.php on line 79

Warning: Creating default object from empty value in /home/chiporta/public_html/modules/mod_mostread/helper.php on line 79

חם בפורומים

Warning: Creating default object from empty value in /home/chiporta/public_html/modules/mod_kunenalatest/helper.php on line 220

Warning: Creating default object from empty value in /home/chiporta/public_html/modules/mod_kunenalatest/helper.php on line 220

Warning: Creating default object from empty value in /home/chiporta/public_html/modules/mod_kunenalatest/helper.php on line 220

Warning: Creating default object from empty value in /home/chiporta/public_html/modules/mod_kunenalatest/helper.php on line 220

Warning: Creating default object from empty value in /home/chiporta/public_html/modules/mod_kunenalatest/helper.php on line 220

Вход в мостбет ставки
ZerkaBonussskync 11.7.2019 19:56
Acheter Tryptizol Drogue
Banzranya 7.7.2019 18:26
Budo-San Top-Qualitat
Banzranya 7.7.2019 18:03
Lamotrigin Generika
Banzranya 7.7.2019 17:39
Diabetex Auftrag
Banzranya 7.7.2019 16:25

עוד...

Warning: Creating default object from empty value in /home/chiporta/public_html/plugins/system/advancedmodules/modulehelper.php on line 320

נובה משיקה מערכת מטרולוגיה בעלת יכולות ייחודיות למדידת שבבים באינטגרציה תלת מימדית
מאת אבי בליזובסקי שלישי, 17 יולי 2012 00:16

מערכת המדידה החדשה Nova V2600

נובה מכשירי מדידה, ספקית פתרונות מטרולוגיה עבור בקרת תהליכים בשוק המוליכים למחצה, הודיעה על פריצת דרך טכנולוגית שתאפשר ליצרני שבבים להאיץ פיתוח ולשפר את יכולות הייצור של אינטגרציות תלת מימד הנשענות על חיבורים בין שבב לשבב מסוג TSV (Through Silicon Via). מערכת המדידה החדשה Nova V2600, שהינה תוצר של שיתוף פעולה עם יצרניות שבבים מובילות, מאפשרת בפעם הראשונה מדידות מדוייקות של מאפייני TSV קריטיים כמו שיפוע הדופן, קוטר התחתית ועקמומיות התחתית. פתרון בקרת תהליך זה, לו חיכתה התעשייה מזה זמן, מאפשר מדידה מקיפה של מימדי ה-TSV במערכת מהירה המוכנה לסביבת ייצור בנפח גבוה, לקראת המעבר של תעשיית השבבים לייצור סדרתי של אינטגרציה רב-שבבית מסוג .3D integration

נובה פיתחה מספר טכנולוגיות לצורך אפליקציה מורכבת זו השוברות חסמים שמנעו בעבר שימוש בשיטות של Optical CD למדידת מבנים לא מחזוריים. בשונה מטכנולוגיות מתחרות הנשענות על הדמיה מוגבלת רזולוציה, שיטה ספקטרלית זו תוכל לשמש גם למדידת הדור הבא של ה- TSV עם קוטר הקטן מ- 5 מיקרון.

גבי זליגסון, נשיא ומנכ"ל נובה, אמר כי "אנו שמחים להיכנס לשוק האינטגרציה התלת מימדית עם מוצר מטרולוגיה בעל בידול תחרותי ברור. תגובת הלקוחות לטכנולוגיה, לביצועים ולתפוקת הייצור של המערכת היא יוצאת מן הכלל, ואנחנו מצפים לקבל מספר הזמנות בעתיד הקרוב מלקוחות מובילים לאחר הליך בחירה קפדני".

Nova V2600 תואמת לפלטפורמת ה- Modular MetrologyTM הפופולרית של נובה המאפשרת התקנת שתי יחידות מדידה במכונה קומפקטית אחת. פלטפורמה מהירה זו מספקת פיתרון מיטבי לחסכון בעלויות וגמישות תפעולית בסביבת ייצור סידרתי.

עוד בתחום צב"ד

Warning: Creating default object from empty value in /home/chiporta/public_html/modules/mod_filterednews/helper.php on line 247

Warning: Creating default object from empty value in /home/chiporta/public_html/modules/mod_filterednews/helper.php on line 247

כתבות נוספות בתחום

‫צב"ד‬
קיידנס משיקה את Celsius, פתרון לשוק התכנון וניתוח מערכות
בעידן שבו שואפת תעשיית האלקטרוניקה למוצרים קטנים יותר, מהירים יותר, חכמים ומורכבים יותר, עם צפיפות הספק גבוהה יותר, מתעורר צורך בשימוש...
קרא עוד