אפלייד מטיריאלס משיקה כלי בדיקה ברזולוציה של ננומטר אחד שפותח בישראל
מאת אבי בליזובסקי שלישי, 12 יולי 2016 00:03

	מערכת ה- PROVision של אפלייד מטיריאלס. צילום יח"צ

אפלייד מטיריאלס הודיעה על השקת הדור הבא של מערכת הבדיקה ((inspection בטכנולוגיית e-beam, המספקת את הרזולוציה ואיכות התמונה הגבוהות ביותר ומאפשרת את מהירות הבדיקה הגבוהה ביותר ללקוחות מובילים העוסקים בייצור שבבים (logic DRAM ו-3D NAND) עם המעבר שלהם לטכנולוגיות ייצור מתקדמות יותר.

מערכת ה- PROVision של אפלייד היא כלי הבדיקה המתקדם ביותר בתעשייה בפלח השוק האמור והיא משלבת חידושים המבוססים על יותר מ-20 שנה של מומחיות בטכנולוגיית e-beam לבדיקה ומדידה (מטרולוגיה). זהו גם כלי הבדיקה (inspection) מבוסס e-beam היחיד שמציע רזולוציה של עד 1 ננומטר, המאפשר ללקוחות לאתר את הפגמים הזעירים ביותר אשר יכולים "להרוג" את השבב, שמערכות אחרות אינן יכולות למצוא, ולנטר תופעות הקשורות למרווחי ייצור הדוקים. זאת על מנת לפתור במהירות בעיות הקשורות למעבר לייצור המוני ולהשגת האיכות והיעילות הגבוהות ביותר בקו הייצור.

"מערכת ה- PROVision היא התוספת החדשה ביותר לקו מוצרי ה- e-beam שלנו וחלק מרכזי באסטרטגיית הצמיחה של אפלייד," אמר בוב פרלמוטר, סגן נשיא ומנהל כללי של קבוצת ההדמיה ובקרת התהליכים באפלייד. "טכנולוגיית ה-e-beam column הייחודית שלנו היא הטובה מסוגה בתעשייה. בשילוב עם מתודולוגיות הבדיקה החדשות של לקוחותינו, היא מאפשרת למערכת ה- PROVision להשתלב גם בסביבת הייצור ולשמש ליישומים נוספים מעבר לשלב הפיתוח".

מערכת ה- PROVision צוברת תנופה ועד כה סופקה כבר לתריסר לקוחות, לרבות הזמנות חוזרות 
מ-foundry מוביל ויצרן זכרונות גדול. מערכות נוספות מתוכננות להישלח ללקוחות קיימים וחדשים במחצית השנייה של 2016.

"השילוב הייחודי של רזולוציה גבוהה ביותר ויכולת דגימה (sampling) מסיבית שמציעה מערכת 
ה- PROVision מסייע בקיצור משך הזמן לפתרון הבעיה ובקיצור משך הזמן עד להשקת הטכנולוגיות המתקדמות שלנו," אמר ד"ר או-ז'אנג קוון מקבוצת SK hynix R&D EBI.

עם מהירות גדולה פי שלושה בהשוואה לכלי בדיקה (inspections) אחרים בטכנולוגיית

e-beam hot spot inspection, מערכת ה- PROVision מבטיחה אפיון מדויק של התהליך, חיזוי ואיתור פגמים בייצור וכן איתור ליקויים המעכבים איכות ויעילות גבוהות יותר לאורך כל מחזור החיים של המוצר ב-fab. מערכת PROVision משלימה את מוצרי המדידה והבדיקה באמצעות e-beam, כמו גם את קו המוצרים לבדיקת פרוסות סיליקון מבוססי אופטיקה.

עוד בתחום צב"ד Warning: Creating default object from empty value in /home/chiporta/public_html/modules/mod_filterednews/helper.php on line 247 Warning: Creating default object from empty value in /home/chiporta/public_html/modules/mod_filterednews/helper.php on line 247 כתבות נוספות בתחום ‫צב"ד‬ קיידנס משיקה את Celsius, פתרון לשוק התכנון וניתוח מערכות בעידן שבו שואפת תעשיית האלקטרוניקה למוצרים קטנים יותר, מהירים יותר, חכמים ומורכבים יותר, עם צפיפות הספק גבוהה יותר, מתעורר צורך בשימוש... קרא עוד ‫צב"ד‬ אדוונטסט מציגה פתרונות בדיקה חדשים עבור 5G, רכב וזיכרון ההכרזה התקיימה במהלך כנס סמיקון טאיוואן המתקיים השבוע קרא עוד

תגובות (0)

הצג או הסתר תגובות

כתוב תגובה

מייל שם אתר		כותרת תגובה יותר קטן | יותר גדול
		קבלת עדכונים בדואר אלקטרוני - למשתמשים רשומים בלבד קראתי והנני מסכים ל תנאי השימוש באתר העתק תווים מוצגים הוסף תגובה